一、系統(tǒng)組成整體概述
本系列程序高低溫冷熱沖擊試驗箱主要用于測試材料對極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗?zāi)苁垢鞣N物品在最短的時間內(nèi)完成測試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得完全之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動控制，將使您操作簡易。
冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標準為：GB/T2423.1-2008試驗A 、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。
滿足的試驗方法：GJB150.5-86 溫度沖擊試驗，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。
二、冷熱沖擊試驗箱用途
高低溫冷熱沖擊試驗箱廣泛用于電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機械的元件，可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。
三、冷熱沖擊試驗箱滿足標準
GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗A：低溫試驗方法；
GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法；
GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗；
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法；
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 ；
國軍標GJB150.3-86；
國軍標GJB150.4-86；
國軍標GJB150.5-86。
四、技術(shù)參數(shù)
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溫度范圍
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-40℃～150℃
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沖擊溫度
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+150～-40℃
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高溫箱
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+60℃～150℃
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工作室尺寸
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350×350×400mm; （寬×高×深）
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低溫箱
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0℃～-60℃
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外形尺寸
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約1500×1900×1500mm; （寬×高×深）
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溫度波動度
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±2℃
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電源
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380V±38V 50Hz±1Hz
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溫度誤差
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±2℃
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功率
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約16.5Kw
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升溫速率
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從常溫～150℃≤50min
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溫度恢復(fù)時間
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≤5min
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降溫速率
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從常溫～-60℃≤60min
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樣品架承重
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5Kg以內(nèi)
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制冷下限溫度
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≤-60℃
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四、技術(shù)參數(shù)
工作室超溫；
制冷機超壓；
制冷機過載；
制冷機油壓；
加熱器短路、過載 ；
鼓風(fēng)電機過載；
系統(tǒng)漏電保護；
環(huán)境溫度：5―45℃；
環(huán)境濕度：≤90%R.H；
保證性能的條件：（在下述條件下，保證最低可達溫度-65℃）；
環(huán)境溫度：≤30℃(無凝露) 。
產(chǎn)品詳細
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